HAST高加速應力試驗系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓

HAST高加速壽命試驗箱，是通過對樣品施加高溫高濕以及高壓的方式，實現(xiàn)對產(chǎn)品加速老化的一種試驗方法。

廣泛用于PCB、IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗，用于評估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。

HAST高加速應力試驗系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓

主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力，的各種條件來完成，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

標準設計更安全：內(nèi)膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合guo家安全容器規(guī)范；

多重保護功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；

穩(wěn)定性geng高：控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式，確保測試穩(wěn)定性；

濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設定；

智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導出保存。

相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，如85°C/85％RH，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評估的測試周期，節(jié)約時間成本。HAST高加速老化測試已成為某些行業(yè)的標準，特別是在PCB、半導體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品中，作為標準高溫高濕測試（如85C/85%RH-1000小時）的快速有效替代方案。