薄膜測厚儀，適用于介質(zhì)，半導體，薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該，是我公司與美國new-span公司合作研制的，采用new-span公司*的薄膜測厚技術(shù)，基于白光干涉的原理來測定薄膜的厚度和光學常數(shù)（折射率n