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ATC系列 zonglen桌面型高低溫沖擊熱流儀，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，...

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì)...

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絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱，絕緣電阻劣化（離子遷移）測(cè)試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗(yàn)箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè)，快捷評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻...

HAST高加速壽命試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條...

HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...

PCB離子遷移測(cè)試 試驗(yàn)箱，PCB離子遷移，簡(jiǎn)稱CAF。離子遷移是指在印刷電路板等產(chǎn)品上，由于離子化金屬向相反電極移動(dòng)，在相對(duì)電極還原成原來(lái)的金屬并有析出的現(xiàn)象...

高加速老化HAST箱HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Oven，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)...

HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Chamber老化測(cè)試試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)...

半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試高加速老化測(cè)試機(jī)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度...

IGBT-HAST試驗(yàn)箱 高加速老化測(cè)試機(jī)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...

Espec日本愛(ài)思佩克高加速老化HAST維修服務(wù)，它通過(guò)模擬產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力，如極低的溫度、振動(dòng)和電壓等，以測(cè)試產(chǎn)品的可靠性和...

導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱，導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)可與zonglen HAST高加速老化試驗(yàn)箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證您PCB檢測(cè)的精...

CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱，CAF是指印制線路板內(nèi)部在電場(chǎng)作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸?shù)膶?dǎo)電性金屬鹽構(gòu)成的電化學(xué)遷移。它通常發(fā)生在印制線路板基材...

日本hirayama平山HAST高加速壽命試驗(yàn)箱維修，HAST，它通過(guò)模擬產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力，如極低的溫度、振動(dòng)和電壓等，以測(cè)試...

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BiasHAST高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓...

半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的...